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多功能原子力顯微鏡 Park NX12

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多功能原子力顯微鏡平臺，滿足納米級測量的需求

· 原子力顯微鏡（AFM)有納米級分辨率成像以及電，磁，熱和機器性能測量的能力。

· 納米管掃描系統(tǒng)可用于高分辨率掃描離子電導(dǎo)顯微鏡（SICM)。
· 倒置光學(xué)顯微鏡（IOM）便于透明材料研究和熒光顯微鏡一體化。

通過驗證的NX10性能

通過倒置光學(xué)顯微鏡樣品平臺，Park NX12將Park原子力顯微鏡的多功能性和準(zhǔn)確性相結(jié)合。這使得使用者更容易的使用納米管技術(shù)去研究透明，不透明，或軟或硬的樣品。

電化學(xué)測試的較佳平臺
電池，燃料電池，傳感器和腐蝕等電化學(xué)研究是個快速增長的領(lǐng)域，然后許多原子力顯微鏡不能直接滿足其特殊的需求。Park NX12的人性化設(shè)計，為快速操作提供便利，從而達(dá)到化學(xué)研究人員要求的功能性和靈活性。這主要包括：
· 多功能易用電化學(xué)池
· 惰性氣體和濕度的環(huán)境控制選項

· 雙恒電位儀的兼容性

研究人員可利用Park NX12平臺實現(xiàn)各種電化學(xué)應(yīng)用：
· 掃描電化學(xué)顯微鏡(SECM)
· 掃描電化學(xué)池顯微鏡(SECCM)

· 電化學(xué)原子力顯微鏡（EC-AFM）和電化學(xué)掃描隧道顯微鏡( EC-STM)

考慮建立多用戶設(shè)備

Park NX12完全重新構(gòu)建，以適應(yīng)多用戶設(shè)備需求。其他原子力顯微鏡解決方案缺乏必要的多功能性，難以滿足該設(shè)備中用戶的多重需求，很難合理控制設(shè)備成本。然而，Park NX12旨在能夠容納標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境原子力顯微鏡成像，液體掃描探針顯微鏡，光學(xué)和納米光學(xué)成像，使其成為*靈活的原子力顯微鏡之一。

模塊化設(shè)計
· Park NX12是專門針對專業(yè)電化學(xué)研究人員需求量身定制的原子力顯微鏡平臺。
· 它基于化學(xué)和電化學(xué)性質(zhì)，氣體和液體中介質(zhì)的特性，為掃描探針顯微鏡提供了一個通用的解決方案，可用于廣泛的不透明和透明材料。
· Park NX12基于其廣泛的可視光投置到掃描探針的掃描探針顯微鏡技術(shù)的納米管，易用性強。

· Park NX12準(zhǔn)確度****，是多用戶設(shè)備和職業(yè)研究人員的理想平臺。

多功能應(yīng)用

Park NX12功能廣泛，包括液體中的PinPoint ?和納米力學(xué)，倒置光學(xué)顯微鏡定位透明樣品，離子電導(dǎo)顯微鏡超軟樣品成像，以及改善透明樣品光學(xué)性能的可視性。

綜合性的力譜方法

Park NX12提供了一種在液態(tài)和空氣中的納米力學(xué)表征的完整套餐，使其成為廣泛應(yīng)用中的理想選擇。

模塊化

NX12模塊化設(shè)計，安裝簡單，兼容性強，可以滿足您的多種實驗需求。

適合早期職業(yè)研究人員的有競爭力的價格和靈活性

早期職業(yè)研究人員通常沒有足夠的預(yù)算購買價格高昂的原子力顯微鏡。Park NX12不僅是經(jīng)濟(jì)實惠的入門之選，同時還提供了可隨著職業(yè)發(fā)展而不斷壯大的模塊化平臺。它不同于其他價格相近的原子力顯微鏡，Park NX12配有先進(jìn)的研究級精度和功能，可為在空氣和液體中的透明和不透明材料提供其表面形態(tài)納米級分辨率。這使得新的化學(xué)，材料科學(xué)或生物化學(xué)實驗室的*佳投資回報成為可能。

Park SmartScan?自動模式下的單擊成像

Park NX12配備了我們的SmartScan?操作系統(tǒng)，使其成為市場上*易使用的原子力顯微鏡之一。其界面直觀給力，即使是未經(jīng)培訓(xùn)的用戶也可以無需監(jiān)控，快速掃描樣品。這使得上等研究人員能夠?qū)⑺麄兊慕?jīng)驗專注在解決更大的問題和開發(fā)更好的方案。

易使用性
共享實驗室的用戶通常背景各異，經(jīng)驗水平各異。NX12為每個用戶提供簡單的點擊界面和自動化SmartScan?模式。

打開原子力顯微鏡系統(tǒng)后，具體操作如下：

1. 點擊 “設(shè)置”

系統(tǒng)出現(xiàn)一個小窗口，通過動畫演示指導(dǎo)您如何儀器設(shè)置和放置待成像的樣品。一般情況下，這一步僅需幾分鐘。

2. 點擊 “定位”

系統(tǒng)自動對懸臂進(jìn)行頻率掃描，讓 Z 軸掃描儀向樣品靠近，并自動對焦樣品，使用戶看到成像目標(biāo)區(qū)域后進(jìn)行操作，移動到目標(biāo)區(qū)域。

3. 點擊 “成像”

系統(tǒng)設(shè)置所有實現(xiàn)*優(yōu)設(shè)置所必要的參數(shù)，然后啟用懸臂，開始掃描樣品。持續(xù)掃描，直至獲得完整圖像。

結(jié)束
懸臂將從樣本上移開，準(zhǔn)備進(jìn)行下一次樣品成像操作。

功能上等，價格親民

NX12的功能和精度通常僅在較高價格的方案中可見，包括：

· 電動對焦平臺

完全集成的原子力顯微鏡光學(xué)器件伴隨針尖減少監(jiān)管的需要。

· 智能掃描使自動化的多重高質(zhì)量掃描變得簡單

Park的創(chuàng)新SmartScan?自動化功能允許用戶點擊按鈕進(jìn)行掃描并創(chuàng)建自動化腳本。NX12同樣為離子電導(dǎo)顯微鏡提供SmartScan?。

· 倒置光學(xué)顯微鏡（IOM）

NX12的倒置光學(xué)顯微鏡使用戶能夠輕松使用納米管技術(shù)測量透明樣品。

· PinPoint?化學(xué)品（掃描電化學(xué)顯微鏡）
NX12的PinPoint?模式使用戶通過高分辨率原子力顯微鏡針尖來操作掃描電化學(xué)顯微鏡，并且具有極高的**度。

· 雙恒電器兼容性

允許掃描隧道顯微鏡，原子力顯微鏡和離子電導(dǎo)顯微鏡之間的簡單轉(zhuǎn)換。

· 多功能濕度和溫度控制選項

Park NX12能在測量之前和測量過程中控制濕度和溫度。

· 燈光可輕易投射到驅(qū)動聚焦平臺

該系統(tǒng)在測量期間可以從各個角度，頂部，側(cè)面以及底部光纖接入探針。這種可以大范圍投置燈光的方式與設(shè)備模塊設(shè)計相結(jié)合，還可添加光學(xué)或納米學(xué)附件。

· 綜合力譜方案

Park NX12為液體和空氣中的納米機械表征提供完整封裝，使其成為廣泛應(yīng)用的理想選擇。

資料標(biāo)題	文件大小	下載次數(shù)	下載
Park NX12	1.4 mb	196	下載只有會員下載，請登錄下載

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滬ICP備13022329號-3

掃描器	Z掃描器 AFM 掃描頭柔性引導(dǎo)高推動力掃描器掃描范圍：15μm(可選 30μm)	XY 掃描器閉環(huán)控制的柔性引導(dǎo)XY掃描器掃描范圍：100μm ×100μm
	SICM 掃描頭多層壓電疊層驅(qū)動器驅(qū)動的柔性引導(dǎo)結(jié)構(gòu) 掃描范圍：15μm(可選 30μm)

驅(qū)動臺	XY 驅(qū)動臺行程范圍: 50 mm x 50 mm Z 驅(qū)動臺行程范圍: 25 mm 聚焦驅(qū)動臺行程范圍: 15 mm

影像	樣品表面和懸臂的直觀同軸影像視野: 840 μm × 630 μm (10倍物鏡) 攝像頭: 5 M Pixel (默認(rèn)), 1M Pixel (可選)	物鏡 10倍 (NA. 0.23) 超長工作距離鏡頭 20倍 (NA. 0.35) 高分辨率，長工作距離鏡頭

控制器	信號處理 ADC: 18 通道 24-bit ADC 的 X, Y 和 Z 掃描器位置傳感器 DAC: 17 通道 20-bit DAC的 X, Y 和 Z 掃描器定位	集成功能 3通道數(shù)字鎖相放大器彈性系數(shù)校準(zhǔn)(熱方法) 數(shù)據(jù)Q 控制

選項/模式	標(biāo)準(zhǔn)成像: 真正的非接觸模式, 接觸模式, 側(cè)向摩擦力顯微術(shù)(LFM), 相位成像模式, 輕敲模式, Pinpoint?模式：Pinpoint成像；化學(xué)性能: 掃描電化學(xué)池顯微鏡(SECCM), 掃描電化學(xué)顯微鏡(SECM), 電化學(xué)原子力顯微鏡(EC-AFM)和電化學(xué)掃描隧道顯微鏡(EC-STM), 功能化探針的化學(xué)力顯微鏡介電／壓電性能: 靜電力顯微鏡, 動態(tài)接觸式靜電力顯微鏡(EFM-DC), 壓電力顯微鏡 (PFM), 高電壓PFM；力測量: 力－距離(F-D)光譜, 力譜成像；磁性能: 磁力顯微鏡(MFM), 可調(diào)外加磁場MFM；熱性能: 掃描熱顯微鏡(SThM)；電性能: 導(dǎo)電AFM(CP-AFM), Pinpoint? 導(dǎo)電AFM, I-V譜線, 掃描開爾文探針顯微鏡(SKPM/KPM), 高電壓SKPM, QuickStep?掃描電容顯微鏡(SCM), 掃描電阻顯微鏡(SSRM), 掃描隧道顯微鏡(STM), 掃描隧道光譜(STS), 光電流測繪(PCM), Current-distance(I/d) Spectroscopy (with SICM)；機械性能: Pinpoint?納米力學(xué)模式, 力調(diào)制顯微鏡(FMM), 納米壓痕, 納米刻蝕, 高電壓納米刻蝕, 納米操縱；

軟件	Park SmartScan? AFM系統(tǒng)控制和數(shù)據(jù)采集的專用軟件自動模式的快速設(shè)置和簡易成像手動模式的上等使用和更精密的掃描控制	XEI AFM數(shù)據(jù)分析軟件獨立設(shè)計-可獨立安裝和分析數(shù)據(jù)能夠生成采集數(shù)據(jù)的3D繪制

配件	控溫臺手套箱* 磁場發(fā)生器液態(tài)選項隔音罩